新開發(fā)的分析技術(shù)：偏振X射線用于熒光分析

  德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種新技術(shù)，那就是把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析，這種技術(shù)極其成功。

  像如今在拍攝高質(zhì)量圖片時(shí)偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種先進(jìn)的分析技術(shù)也成為實(shí)驗(yàn)室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。

  斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù)，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺(tái)式偏振X射線熒光光譜儀。

  SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件，由此獲得了較好的靈敏度和準(zhǔn)確性。偏振刺激靶的設(shè)計(jì)，確保激發(fā)的進(jìn)行。12位樣品自動(dòng)交換器、預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

  擴(kuò)展的偏振光學(xué)系統(tǒng)的輻射源*采用50W低能量的X射線管，可用于Na-U元素的同時(shí)分析。從X射線中發(fā)出的原始X射線通過高通量偏振光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行轉(zhuǎn)換，可以得到*偏振且部分單色的X射線，由此能夠高靈敏地測定各種元素。這種分析技術(shù)在許多應(yīng)用中不需要高吸收輻射的濾光片。