X射線熒光光譜儀無(wú)標(biāo)樣分析方法和定量分析方法詳解

點(diǎn)擊次數(shù)：3102 更新時(shí)間：2020-05-14

　　X射線熒光光譜儀是一種可以對(duì)任何種類(lèi)的樣品進(jìn)行元素分析的儀器，無(wú)論要分析的樣品是液體、固體還是粉末。XRF技術(shù)將準(zhǔn)確度和精密度與簡(jiǎn)單和快速的樣品準(zhǔn)備完美結(jié)合，對(duì)鈹(Be)到鈾(U)的元素喜遷分析，濃度范圍從100%到低至亞ppm級(jí)。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜測(cè)定法以其的準(zhǔn)確度、精密度和可靠性著稱(chēng)。這種強(qiáng)大的分析技術(shù)，使其可用于所有形式的工業(yè)應(yīng)用，例如水泥、聚合物、煉油廠、采礦及工業(yè)礦物等。

　　X射線熒光光譜儀的無(wú)標(biāo)樣和定量分析方法如下：

　　一、X射線熒光光譜儀無(wú)標(biāo)樣分析方法

　　對(duì)于以固體進(jìn)樣為主的X射線熒光分析技術(shù)，要獲得一套高質(zhì)量的固體標(biāo)準(zhǔn)樣品有一定難度，限制了X射線熒光分析的應(yīng)用范圍。

　　而X射線熒光光譜無(wú)標(biāo)樣分析技術(shù)是90年代推出的新技術(shù)，其目的是不用標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以分析各種樣品。它的基本思路是：由儀器制造商測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣品，儲(chǔ)存強(qiáng)度和工作曲線，然后將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)到用戶(hù)的X射線熒光分析系統(tǒng)中，并用隨軟件提供的參考樣品校正儀器漂移。因此，無(wú)標(biāo)樣分析不是不需要標(biāo)樣，而是將工作曲線的繪制由儀器制造商來(lái)做，用戶(hù)將用戶(hù)儀器和廠家儀器之間的計(jì)數(shù)強(qiáng)度差異進(jìn)行校正。其優(yōu)點(diǎn)是采用了制造商的標(biāo)樣、經(jīng)驗(yàn)與知識(shí)，包括測(cè)量條件，自動(dòng)譜線識(shí)辨，背景扣除，譜線重疊校正，基體校正等。無(wú)標(biāo)樣分析技術(shù)可以在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)樣品的情況下分析各種樣品中的七十幾個(gè)元素，應(yīng)用范圍較廣，但其適用性也帶來(lái)了分析準(zhǔn)確度的局限性。

　　二、X射線熒光光譜儀定量分析方法

　　X射線熒光光譜法是一種相對(duì)分析方法，光譜儀只提供X射線熒光的強(qiáng)度，要找到熒光強(qiáng)度與樣品濃度的關(guān)系，需要一套高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)元素的濃度和已測(cè)的該元素的特征譜線的強(qiáng)度按一定關(guān)系進(jìn)行擬合繪制工作曲線，以該工作曲線為基礎(chǔ)測(cè)試同類(lèi)型樣品元素的組成和含量。

　　以上就是X射線熒光光譜儀的兩種分析方法介紹，供大家參考！

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